経済・経営
連鎖思考による技術価値評価
目利き(VISTA)マップ
松居 祐一(まつい ゆういち) 著
本書では技術間の連鎖の強さを、客観情報(競合他社など)、個人思考(直感など)、社内情報(所有技術や設備など)の要素からなる1つのベクトルで表す。その結果、素材や部品関連の技術に対しても価値評価が可能になる。
滋賀県立大学地域産学連携センター教授。工学博士。
東京大学大学院工学系研究科修士課程修了。
住友電気工業株式会社、株式会社神戸製鋼所を経て、2003年より現職。
日本神経回路学会、応用物理学会、電気学会、電子情報通信学会所属。IEEEメンバー。JAP(米国応用物理学会誌)論文査読員。
専門分野は、薄膜工学(原子層制御、バンド計算理論)、デバイス工学(センサー、量子効果デバイス、微細加工)、センシングシステム(視覚認識回路設計、並列処理回路設計)、産業マネジメント、技術経営、技術価値評価手法の開発。